Noctvision https://validator.w3.org/feed/docs/rss2.html 서버에선 잘 됐는데 엣지에선 왜 정확도가 떨어지나 반도체·PCB 검사 카메라 증설, 인터페이스가 광학 설계를 바꾸다 Adding Cameras to a Semiconductor/PCB Inspection Line: The Interface Rewrites the Optical Design 고속 검사 라인에서 프레임레이트와 조명이 충돌하지 않으려면 Keeping Frame Rate and Lighting from Colliding on a High-Speed Inspection Line PCB·반도체 표면검사, 육안이 놓치는 15~40μm의 경계선 PCB and Semiconductor Surface Inspection: The 15–40µm Boundary the Human Eye Misses 고속 라인에서 결함을 놓치지 않는 광학 설계의 조건 What Optical Design Needs to Not Miss Defects on a High-Speed Line 다중 카메라 검사 라인에서 PoE 랜카드가 광학 셋업의 한계를 결정하는 이유 Why the PoE Network Card Sets the Limit on Your Optical Setup in a Multi-Camera Inspection Line 자동차 부품 외관검사, 조명 설계가 먼저입니다 Automotive Part Appearance Inspection: Lighting Design Comes First 다크필드 조명과 엣지 AI 결함 분류: 난반사 표면 검사의 새로운 기준 Dark-Field Illumination and Edge AI Defect Classification: A New Baseline for Specular-Surface Inspection 소프트웨어 정의 조명(Software-Defined Lighting): 하나의 헤드로 암시야와 동축낙사를 오가는 검사 셋업 Software-Defined Lighting: One Head, Switching Between Dark-Field and Coaxial Illumination 왜곡 보정과 피사계 심도(DOF)의 줄다리기: 텔레센트릭 렌즈로 미세 결함을 놓치지 않는 법 The Tug-of-War Between Distortion Correction and Depth of Field: How Telecentric Lenses Catch Micro-Defects Without Losing Them 정반사가 결함을 지운다: 교차 편광(Cross-Polarization)으로 고반사 표면의 미검출을 잡는 법 Specular Reflection Erases Defects: How Cross-Polarization Catches Missed Detections on Highly Reflective Surfaces 감지시간 65% 단축, 오경보 80% 감소: 엣지 화재감지 AI의 두 숫자를 읽는 법 Detection Time Cut 65%, False Alarms Down 80%: How to Read the Two Numbers Behind Edge Fire-Detection AI 정반사와 무광이 한 화면에 있을 때: HDR 멀티 노출 융합으로 콘트라스트를 되살리는 법 When Specular and Matte Meet in One Frame: Reviving Contrast with HDR Multi-Exposure Fusion 엣지 AI 추론에 INT8 양자화를 적용하기 전에 반드시 확인해야 할 것: 미세 결함이 조용히 사라지는 이유 What You Must Check Before Applying INT8 Quantization to Edge AI Inference: Why Micro-Defects Quietly Disappear 2D 콘트라스트로는 안 보이는 것: 3D 구조광 검사가 솔더 조인트 높이를 재는 법 What 2D Contrast Can’t See: How 3D Structured-Light Inspection Measures Solder Joint Height 이벤트 카메라(뉴로모픽 비전)로 잡아내는 초고속 미세 결함 — 프레임이 놓치는 순간을 본다 Ultra-High-Speed Micro-Defects Caught by Event Cameras (Neuromorphic Vision) — Seeing What Frames Miss 리퀴드 렌즈 오토포커스, 다품종 소량 생산 라인의 초점 문제를 푸는 법 Liquid Lens Autofocus: Solving the Focus Problem on High-Mix, Low-Volume Production Lines Few-Shot 이상탐지(Few-Shot Anomaly Detection): 결함 샘플 5장으로 검사 라인을 세울 수 있는가 Few-Shot Anomaly Detection: Can 5 Defect Samples Stand Up an Inspection Line 카메라 인터페이스 대역폭이 분해능을 결정한다 — GigE Vision에서 CoaXPress 2.0으로 Camera Interface Bandwidth Determines Resolution — From GigE Vision to CoaXPress 2.0 μm 단차가 사라지는 지점: 색채 공초점(Chromatic Confocal) 2채널 컨트롤러로 양면 두께를 동시에 잡는 법 Where the μm Step Disappears: Measuring Both-Side Thickness Simultaneously with a Two-Channel Chromatic Confocal Controller 위상측정 편향법(PMD)으로 고광택 사출품의 20 μm 함몰을 잡아내는 법 — 편광 융합이 메꾸는 마지막 구멍 Catching 20 μm Sink Marks in High-Gloss Injection-Molded Parts with Phase Measuring Deflectometry (PMD) — The Last Gap Polarization Fusion Fills 2D·3D 융합 검사, 병목은 조명 간섭입니다 프로그래머블 다각도 조명과 엣지 AI 추론, PCB 미세 크랙 검출의 한계를 다시 그리다 휴머노이드가 물체를 잡을 때, 카메라는 무엇을 봐야 하나 2D로 못 잡는 형상 결함, 3D+AI 검사가 답이 되는 조건 검출과 분류를 한 모델로 — KLA 통합 CNN 특허의 트레이드오프 가시광에서 사라지는 결함이 있다 — SWIR 이미징이 1 μm 장벽을 넘은 뒤의 검사 설계 There Are Defects That Vanish in Visible Light — Inspection Design Beyond the 1 μm Barrier in SWIR Imaging AOI는 “불량”이라고만 말한다 — 비전 언어 모델이 메꾸는 판정 근거의 공백 AOI Only Says “Defective” — How Vision Language Models Fill the Gap in Judgment Rationale