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반도체·PCB 검사 카메라 증설, 인터페이스가 광학 설계를 바꾸다
카메라 대수가 늘어나는 반도체·PCB 검사 라인에서 인터페이스 대역폭이 검사 속도(fps)와 분해능을 어떻게 제약하는지, 표면 반사율과 WD(작동거리) 확보를 기준으로 정리합니다.
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물류자동화가 전공정으로 넘어갈 때, 비전 검사는 무엇이 달라지나
반도체 전공정 물류자동화 구간에서 반송 중 정렬 오차를 잡는 비전 체크포인트 설계법. 검사 지점 위치 선정, 반송 정지 구간 처리 시간 예산, WD 우선 확보 순서를 매칭표로 정리합니다.